通過掃描電鏡成像來看高效過濾器的內(nèi)部結構
為了得到有關高效過濾器介質局部結構的真實信息,,掃描電鏡成像(Scanning Electron Microscopy,,SEM)以能對材料的序列斷面進行成像研究而得到廣泛應用。
掃描電鏡濃縮了電子光學技術,、真空技術,、精細機械結構以及現(xiàn)代計算機控制技術。掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級電磁透鏡匯集成細小的電子束,。
在試樣表面進行掃描,,激發(fā)出各種信息,通過對這些信息的接收、放大和顯示成像,,以便對試樣表面進行分析,。
入射電子與試樣相互作用產(chǎn)生不同的信息種類。這些信息的二維強度分布隨試樣表面的特征而變(這些特征有表面形貌,、成分,、晶體取向、電磁特性等) ,,是將各種探測器收集到的信息按順序,、成比率地轉換成視頻信號,再傳送到同步掃描的顯像管并調制其亮度,,可以得到一個反應試樣表面狀況的掃描圖. 如果將探測器接收到的信號進行數(shù)字化處理即轉變成數(shù)字信號,,就可以由計算機做進一步的處理和存儲。
對隨機結構的纖維高效過濾器的氣-固兩相流場進行了數(shù)值模擬,,其中對顆粒相的處理采用了商業(yè)軟件Fluent中離散顆粒模型,,隨機結構由掃描電鏡(SEM)技術來確定。
但是利用SEM技術對高效過濾器內(nèi)部結構進行處理會存在兩方面缺陷:首先SEM方法本身的局限性使得該項技術用在高效高效過濾器領域并不合適,,即:為了對內(nèi)部結構進行掃描,,高效過濾器介質必須被分割成許多塊,這樣必然會破壞高效過濾器內(nèi)部結構,,從而影響模型結構的真實性,;
其次,SEM技術的分辨率也不能達到高效過濾器介質的測試要求,,而且所處理樣本的尺寸也會受到限制,。
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